Componente

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Ano do fabrico: 2025, Condição: novo, Sistema de inspeção por raio X para embalagens e sacos de tamanho médio. Adequado para a detecção de corpos estranhos feitos de metal, vidro, pedra, plástico, etc. em alimentos ou itens não alimentícios. - Especificações: Largura da correia transportadora: 410 mm; Precisão de detecção: Pb de Ø 0,2 mm, Fe de Ø 0,28 mm, SUS de Ø 0,28 mm, não metálicos como pedra, vidro, de Ø 1,2 mm; Potência de raios X: 80 kVp, 1,25 mA; Resolução do detector: 0,4 mm; Emissões de raios X: < 1usv/h; Altura da correia transportadora: 850 ± 30 mm; Velocidade da correia transportadora (dependente do produto): 10 – 100 m/min; Interface do usuário: tela sensível ao toque de 15"; Software: intellisens®X-ray; Temperatura de operação: 5 – 35 °C; Sistema de ejeção: disponível opcionalmente de acordo com os requisitos; Alimentação: 220 VCA, 50/60 Hz; Dimensões do sistema: C900 x L920 x A1825 mm; Peso: 350 kg. Ljdpfsv Nm Inox Af Noak Observe que nossos preços novos geralmente são mais baixos do que os preços habituais de usados. Basta perguntar e nos contar sua tarefa de embalagem. - Geralmente há de 30 a 50 máquinas novas diferentes disponíveis imediatamente em estoque. Além disso, temos prazos de entrega muito curtos, de aproximadamente 3 semanas, para máquinas fabricadas de acordo com as especificações do cliente. - Todas as máquinas estão disponíveis com garantia total.

Condição: Suporte de peças sobressalentes defeituoso (usado), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 Analisador de Fluorescência de Raios X – Fonte de peças / com defeito Descrição do artigo: À venda está um analisador de fluorescência de raios X usado do tipo Oxford Instruments X-Strata 960. O equipamento provém da desmontagem de um laboratório e é oferecido exclusivamente como fonte de peças ou para fins de reparação. Não foi realizado teste de funcionamento – portanto, o aparelho é considerado defeituoso para fins de venda. Dados técnicos – Oxford Instruments X-Strata 960 (sem compromisso de exatidão) Característica Descrição Modelo X-Strata 960 Fabricante Oxford Instruments Método de análise Análise por fluorescência de raios X (XRF) Áreas de aplicação Medição de espessura de camadas, análise de materiais, teste de metais preciosos Geometria de medição Radiação de cima para baixo ou de baixo para cima, conforme configuração Fonte de radiação Tubo de raios X (ex. ânodo de ródio), potência de 50–100 W Detector Contador proporcional ou detector de deriva de silício (SDD), conforme versão Faixa de medição Espessura da camada aprox. 0,005 – 50 µm (dependendo do material) Tamanho do spot Aprox. 15 μm – 1 mm (dependendo do colimador) Eixo Z Motorizado, com altura de medição até aprox. 230 mm Câmara de amostras (L × P × A) aprox. 580 × 510 × 230 mm Mesa para amostras Manual ou motorizada (200 × 200 mm ou maior, dependendo do equipamento) Sistema de foco Óptico / foco por laser, parcialmente automático Sistema operacional PC industrial integrado com software de análise baseado em Windows Fonte de alimentação 220–240 V / 50–60 Hz / aprox. 500–800 W Peso do equipamento aprox. 150–200 kg (dependendo da configuração) Estado: usado / defeituoso / para fornecimento de peças Conteúdo do fornecimento: conforme ilustrado – sem acessórios ou software Observações importantes: Lodjhaapfjpfx Af Neak Venda expressamente como equipamento defeituoso, sem garantia de funcionamento. O artigo é oferecido como fonte de peças ou para pessoas interessadas em reparo. Não há garantia quanto ao funcionamento, completude ou parâmetros técnicos. Venda comercial com exclusão de qualquer responsabilidade por defeitos, conforme § 447 do BGB (venda à distância). Inclui: Oxford Instruments X-Strata 960 Todos os componentes visíveis nas fotografias Não estão incluídas outras peças, acessórios ou documentação, a menos que explicitamente indicado. Expedição & Retirada: Retirada possível e preferida em Borken Expedição mediante acordo. (Reservamo-nos o direito de alterações e eventuais erros nos dados técnicos e informações!) Estamos à disposição para responder a quaisquer outras perguntas por telefone.

Ano do fabrico: 2016, Condição: muito bom (usado), Inspeção Automática por Raio-X Para inspeção de juntas de solda BGA, QFN, THT, LED, LGA e outras, visíveis ou ocultas. Outros recursos: Incluindo estação offline e estação de reparo SO: Windows 7 Detectores CCD de varredura de linha de ultra-alta velocidade Área de inspeção: 450 mm - 400 mm Aquisição de imagens: 2D, 2,5D, 3D (imagens de corte com TC planar) Dimensões da placa de circuito impresso: 60 - 450 x 50 - 400 mm Lodpowpuadsfx Af Nsak Resolução AXI: 6 - 30 µm / px AOI: Campo de visão da câmera: 42 mm x 42 mm Resolução: 21 µm Altura de inspeção: -3 a 7,5 mm Óptica: telecêntrica Altura de transporte: 950 mm +/- 25 mm Interface: SMEMA Ajuste de largura: automático

Ano do fabrico: 2016, Condição: pronto a usar (usado), Um novo sistema de inspeção por raios X da Anritsu está disponível. Potência de raio X: 100 W, largura máxima de detecção: 240 mm, altura máxima de detecção: 120 mm, velocidade de detecção de 2 kg a 5 kg: 10 m-60 m/min, velocidade de detecção de até 2 kg: 60 m-90 m/min, velocidade de detecção de 5 kg a 10 kg: 10 m-40 m/min, material do invólucro: aço inoxidável, peso da máquina: aprox. 255 kg, horas de operação: menos de 50 h. A máquina não apresenta desgaste na correia transportadora nem nas cortinas de proteção contra radiação. Documentação disponível. É possível uma inspeção no local. Lasdjvzr Aujpfx Af Njk

Condição: usado, PANalytical Difratômetro de Raios X PANalytical X’Pert PRO MPD (XRD) Resumo do relatório de serviço: Aparelho: PANalytical X’Pert PRO MPD Data do relatório: 07/07/2021 Trabalhos executados: - Reinstalação e colocação em funcionamento do sistema - Conexão das linhas de alimentação externas - Fase de aquecimento - Ajuste completo do goniômetro e de outros componentes - Realização de manutenção, incluindo substituição de peças defeituosas Peças de reposição utilizadas: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERIA. NI-CD VENTOINHA PARA A UNIDADE X-CELERATOR FILTRO, ÁGUA Motor PW3050 (“O equipamento não foi testado em nossas instalações”) O X’Pert PRO MPD é um difratômetro de raios X (XRD) altamente versátil e potente para caracterização estrutural de materiais cristalinos. É ideal tanto para pesquisa pura como para aplicações de rotina na indústria e universidade. Devido ao seu design modular, detecção rápida, controle de temperatura e atmosfera, é excelente tanto para análises rotineiras quanto para experimentos complexos in situ. Características importantes: - Diversas geometria de medição possíveis: * Reflexão no modo Bragg-Brentano (θ–2θ) * Geometria de transmissão para pós em capilares * Opcional: SAXS (Espalhamento de Raios X a Baixo Ângulo) para nanostruturas - Fonte de radiação e detectores: * Tipicamente ânodo de cobre (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) * Detector X’Celerator (1D, ultrarrápido) para aquisição paralela de dados - Sistema modular com tecnologia PreFIX: * Troca rápida de ópticas e suportes de amostra sem necessidade de nova calibração - Medições in situ a temperaturas elevadas: * Medições até aprox. 1200°C possíveis - Atmosfera controlada: ar, nitrogênio, oxigênio (restrições para atmosfera redutora) Aplicações típicas: - Análise de fases e quantificação por refinamento de Rietveld - Determinação do tamanho de cristalitos, microdeformação, tensões residuais - Investigação in situ de transições de fases, oxidação, cristalização etc. - Medições SAXS para análise de nanopartículas, estruturas porosas - Ampla variedade de amostras: pós, filmes finos, cerâmicas, produtos farmacêuticos, catalisadores e muito mais Dados técnicos (típicos) Propriedade e especificação: - Faixa angular (2θ) aprox. 0,5° a 150° - Passo até 0,002° ou mais fino - Goniômetro vertical, 0–0, raio de aprox. 240 mm - Faixa de temperatura: temperatura ambiente a aprox. 1200 °C - Atmosfera: ar, N₂, O₂ (restrito para atmosfera redutora) Ledpfx Afswycatj Njak - Detectores: X’Celerator (1D), contador proporcional Difusão e locais de aplicação: O X’Pert PRO MPD é utilizado mundialmente, por exemplo, em: - Universidades (ETH Zurique, TU Dresden, Universidade de Viena) - Institutos de pesquisa (Max-Planck, ICN2, IS2M) - Indústria (desenvolvimento de materiais, farmacêutica, química) Condição: usado / used Volume de entrega: (veja imagem) (Sujeito a alterações e eventuais erros nos dados técnicos!) Outras dúvidas serão respondidas por telefone.

Condição: bom (usado), Helmut Fischer Fischerscope medição da espessura de revestimentos por fluorescência de raios X XDL-XYmZ Ledpfx Afow Hbkds Nsak