Difratômetro de raios X (XRD)

PANalytical X’Pert PRO MPD

PANalytical
Difratômetro de Raios X PANalytical X’Pert PRO MPD (XRD)
Resumo do relatório de serviço:
Aparelho: PANalytical X’Pert PRO MPD
Data do relatório: 07/07/2021
Trabalhos executados:
- Reinstalação e colocação em funcionamento do sistema
Dedpfowycatjx Agyocn
- Conexão das linhas de alimentação externas
- Fase de aquecimento
- Ajuste completo do goniômetro e de outros componentes
- Realização de manutenção, incluindo substituição de peças defeituosas
Peças de reposição utilizadas:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERIA. NI-CD
VENTOINHA PARA A UNIDADE X-CELERATOR
FILTRO, ÁGUA
Motor PW3050
(“O equipamento não foi testado em nossas instalações”)
O X’Pert PRO MPD é um difratômetro de raios X (XRD) altamente versátil e potente para caracterização estrutural de materiais cristalinos. É ideal tanto para pesquisa pura como para aplicações de rotina na indústria e universidade. Devido ao seu design modular, detecção rápida, controle de temperatura e atmosfera, é excelente tanto para análises rotineiras quanto para experimentos complexos in situ.
Características importantes:
- Diversas geometria de medição possíveis:
* Reflexão no modo Bragg-Brentano (θ–2θ)
* Geometria de transmissão para pós em capilares
* Opcional: SAXS (Espalhamento de Raios X a Baixo Ângulo) para nanostruturas
- Fonte de radiação e detectores:
* Tipicamente ânodo de cobre (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
* Detector X’Celerator (1D, ultrarrápido) para aquisição paralela de dados
- Sistema modular com tecnologia PreFIX:
* Troca rápida de ópticas e suportes de amostra sem necessidade de nova calibração
- Medições in situ a temperaturas elevadas:
* Medições até aprox. 1200°C possíveis
- Atmosfera controlada: ar, nitrogênio, oxigênio (restrições para atmosfera redutora)
Aplicações típicas:
- Análise de fases e quantificação por refinamento de Rietveld
- Determinação do tamanho de cristalitos, microdeformação, tensões residuais
- Investigação in situ de transições de fases, oxidação, cristalização etc.
- Medições SAXS para análise de nanopartículas, estruturas porosas
- Ampla variedade de amostras: pós, filmes finos, cerâmicas, produtos farmacêuticos, catalisadores e muito mais
Dados técnicos (típicos)
Propriedade e especificação:
- Faixa angular (2θ) aprox. 0,5° a 150°
- Passo até 0,002° ou mais fino
- Goniômetro vertical, 0–0, raio de aprox. 240 mm
- Faixa de temperatura: temperatura ambiente a aprox. 1200 °C
- Atmosfera: ar, N₂, O₂ (restrito para atmosfera redutora)
- Detectores: X’Celerator (1D), contador proporcional
Difusão e locais de aplicação:
O X’Pert PRO MPD é utilizado mundialmente, por exemplo, em:
- Universidades (ETH Zurique, TU Dresden, Universidade de Viena)
- Institutos de pesquisa (Max-Planck, ICN2, IS2M)
- Indústria (desenvolvimento de materiais, farmacêutica, química)
Condição: usado / used
Volume de entrega: (veja imagem)
(Sujeito a alterações e eventuais erros nos dados técnicos!)
Outras dúvidas serão respondidas por telefone.

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