Microscópio eletrónico de varrimento (PC-SEM)

Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Aqui oferecemos-lhe um microscópio eletrónico de varrimento Jeol.

Microscópio eletrónico de varrimento Jeol JSM-6490 (PC-SEM)

Microscópio eletrónico de varrimento digital de alta resolução e de última geração
com ótica de electrões recentemente desenvolvida e interface gráfica de utilizador (GUI) intuitiva,
interface gráfica de utilizador (GUI) intuitiva no Microsoft WindowsXP Professional.

Gama de ampliação: 5 X - 300.000 X
Tensão de aceleração 0,3 - 30 kV
Cátodo de tungsténio em gancho (cátodo LaB6 opcional)
grande plataforma de amostras totalmente motorizada com inclinação excêntrica
inclinação excêntrica, incl.
Navegação gráfica no suporte de amostras
Fácil navegação de amostras com zoom central de clique
Navegação controlada por campo de imagem através de 2 navegadores
Navegação por coordenadas relativas
Guardar e reiniciar as posições das amostras
Movimento ajustável da plataforma de amostras
Correção do campo durante a rotação através de rotação excêntrica controlada por computador
rotação excêntrica controlada por computador
Correção do campo de imagem durante a inclinação através de
Dcjdemn Rcqopfx Agyjn
inclinação eucêntrica controlada por computador
Cálculo do ângulo de inclinação possível com base na
geometria da amostra
Seguimento automático da focagem ao deslocar a amostra no
amostra no eixo Z
Interruptores de limite inteligentes para os eixos motorizados

Curso da plataforma de amostras:
x=125mm
Y=100mm
z= 5 a 80 mm (contínuo)
T= -10°C a+ 90°C
R= 360°C (sem fim)
Detetor de electrões secundário para funcionamento em alto vácuo
A nova lente objetiva super cónica garante uma elevada resolução de imagem
resolução de imagem, mesmo com grandes ângulos de inclinação
Resolução garantida Na imagem SE: 3 nm a 30 kV e
15 nm a 1 kV
Visualização simultânea de imagens em direto de vários detectores
Fácil navegação de amostras com o Zoom do Centro de Cliques
Poderosas funções de medição de imagem
Função de filme para registo de processos dinâmicos
Câmara de amostras versátil com numerosas
flanges livres, por exemplo, para EDX, WDX,
EBSD, catodoluminescência, etc.
Sistema de bombagem silencioso, de baixa manutenção e baixo desgaste
composto por bomba de apoio, bomba de difusão de alta elasticidade sem vibrações
e controlo eletromagnético da válvula
Proteção extensiva contra erros de funcionamento
e falha de meios externos
Mesa de sistema ergonómica e ajustável em altura
Kit inicial REM composto por 2 suportes de amostras,
conjunto de ferramentas e 6 cátodos de reserva

Equipamento adicional

2x ΜΡ-43100 (TMP)

Bomba turbomolecular
em vez da bomba de difusão standard
Quando é utilizada uma bomba turbomolecular, a água de arrefecimento deixa de ser
não é necessária mais água de arrefecimento para o funcionamento do SEM.

Outros equipamentos:

PC para controlo do SEM
incl. monitor TFT

ΟΧ200 Sistema Bruker Quantax 200 EDX EXTENDIDO

Sistema de análise de raios X por dispersão de energia, isento de nitrogénio.
incl:

Detetor SDD com 127 eV ou melhor resolução de energia.
Deteção de todos os elementos a partir do boro
Sem vibrações, sem manutenção. Refrigerado por Peltier (sem azoto)
Processador de impulsos
Monitor TFT
Medição de espectros e decomposição elementar
Análise elementar totalmente automática, quantitativa e sem normas
análise elementar
Aquisição de imagens
LIneScan qualitativo super-rápido
Mapeamento de elementos qualitativo super-rápido
Sistema de gestão e arquivo de dados
Geração de relatórios e saída de resultados
Comunicação de dados
Instalação

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