Máquina de medição de coordenadasZeiss
O-Inspect 442 Zeiss Calypso
Máquina de medição de coordenadas
Zeiss
O-Inspect 442 Zeiss Calypso
Ano de fabrico
2012
Condição
Usado
Localização
Saarbrücken 

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Dados da máquina
- Designação da máquina:
- Máquina de medição de coordenadas
- Fabricante:
- Zeiss
- Modelo:
- O-Inspect 442 Zeiss Calypso
- Ano de fabrico:
- 2012
- Condição:
- bom (usado)
- Funcionalidade:
- totalmente funcional
Preço e localização
- Localização:
- Saarbrücken, Alemanha

Detalhes técnicos
- Gama de medição eixo X:
- 400 mm
- Faixa de medição eixo Y:
- 400 mm
- Intervalo de medição eixo Z:
- 200 mm
- Curso do eixo X:
- 400 mm
- Curso do eixo Y:
- 400 mm
- Curso do eixo Z:
- 200 mm
- Tensão de entrada:
- 230 V
- Equipamento:
- Placa de identificação disponível, iluminação
Detalhes da oferta
- ID do anúncio:
- A17230982
- Atualização:
- por último em 02.04.2026
Descrição
Ano de construção: 2012
Táctil:
Vast XXT
E0 X/Y (1D) em [μm] a 20 ±2 °C 1,7 + L/250
E0 XY (2D) em [μm] a 20 ±2 °C 1,7 + L/250
E0 (3D) em [μm] a 20 ±2 °C 1,9 + L/250
Desvio da tolerância de varrimento
MPE de acordo com a norma ISO 10360-4:2000 THP a 2,7 [μm]
Desvio de varrimento de sonda única Forma
MPE de acordo com a norma ISO 10360-5:2010
PFTU 1,9 [μm]
Sistema de câmara:
Zeiss Discovery 12
EB X/Y (1D) 5) em [μm] a 20 ±2 °C 1,7 + L/250
EB XY (2D) 5) em [μm] a 20 ±2 °C 1,7 + L/250
Desvio de sondagem MPE de acordo com a norma ISO 10360-7:2011
PF2D 5) 1,7 [μm]
Desvio de sondagem do sistema de processamento de imagem
EMA de acordo com a norma ISO 10360-7:2011
Iodpfx Aouq Nfhenmear
PFV2D 5) 1,2 [μm]
Serviços possíveis: Entrega, colocação em funcionamento
O anúncio foi traduzido automaticamente. Podem ocorrer erros de tradução.
Táctil:
Vast XXT
E0 X/Y (1D) em [μm] a 20 ±2 °C 1,7 + L/250
E0 XY (2D) em [μm] a 20 ±2 °C 1,7 + L/250
E0 (3D) em [μm] a 20 ±2 °C 1,9 + L/250
Desvio da tolerância de varrimento
MPE de acordo com a norma ISO 10360-4:2000 THP a 2,7 [μm]
Desvio de varrimento de sonda única Forma
MPE de acordo com a norma ISO 10360-5:2010
PFTU 1,9 [μm]
Sistema de câmara:
Zeiss Discovery 12
EB X/Y (1D) 5) em [μm] a 20 ±2 °C 1,7 + L/250
EB XY (2D) 5) em [μm] a 20 ±2 °C 1,7 + L/250
Desvio de sondagem MPE de acordo com a norma ISO 10360-7:2011
PF2D 5) 1,7 [μm]
Desvio de sondagem do sistema de processamento de imagem
EMA de acordo com a norma ISO 10360-7:2011
Iodpfx Aouq Nfhenmear
PFV2D 5) 1,2 [μm]
Serviços possíveis: Entrega, colocação em funcionamento
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