Sistema de medição

National Instruments System testowo-pomiarowy PXI Express

À venda, um sistema de teste e medição modular completo da National Instruments, baseado na plataforma PXI Express.

O sistema foi configurado para aplicações de pesquisa e desenvolvimento, testes automatizados de eletrónica, aquisição de dados multicanal, suporte para câmaras industriais, registo de dados, medição de temperatura, vibração e sinais analógicos, e execução de tarefas baseadas em FPGA.

Principais componentes do sistema:
National Instruments PXIe-1085 – Chassi PXI Express 3U com 18 slots e largura de banda do sistema até 24 GB/s,
National Instruments PXIe-8880 – Controlador PXI Express integrado com sistema Windows 7 de 64 bits,
2 × expansão de memória RAM de 8 GB para o controlador PXIe-8880,
6 × National Instruments PXIe-8234 – Módulos GigE Vision de dupla porta, concebidos para aquisição de imagens de câmaras industriais,
National Instruments PXIe-4499 – Módulo de 16 canais e 24 bits para medição de som e vibração, 204,8 kS/s, com suporte para IEPE e TEDS,
conjunto de dois cabos InfiniBand–BNC para o módulo PXIe-4499,
National Instruments PXIe-4357 – Módulo de medição de temperatura de 20 canais e 24 bits para sensores RTD,
National Instruments TB-4357 – Bloco de ligação para PXIe-4357,
National Instruments HDD-8261 – Módulo de armazenamento de dados SSD rápido com 6 discos e capacidade total de 2,9 TB na configuração original,
National Instruments PXIe-7846R – Módulo de entrada/saída reconfigurável com FPGA Kintex-7 160T, equipado com 8 entradas analógicas, 8 saídas analógicas e 48 linhas de E/S digitais,
National Instruments SCB-68A – Bloco de ligação blindado,
bloco de ligação blindado de 68 pinos para dispositivos R Series DIO e HSDIO,
cabo SHC68-68-RMIO com 2 m de comprimento,
cabo digital blindado R Series High Speed Digital Cable com 2 m de comprimento,
cabo de alimentação.

O sistema permite a criação de estações de teste avançadas para:
testes automatizados de eletrónica,
aquisição e análise de dados multicanal,
sistemas de visão computacional e suporte para várias câmaras GigE Vision,
controlo de qualidade e inspeção industrial,
medição de som e vibração,
medição de temperatura utilizando sensores RTD,
gravação rápida de grandes quantidades de dados,
controlo e processamento de sinais em tempo real,
trabalhos de laboratório e projetos de pesquisa e desenvolvimento.

Os dispositivos foram adquiridos como parte de um sistema completo da National Instruments. A documentação original de compra está disponível para consulta.

O sistema foi utilizado em atividades de pesquisa e desenvolvimento relacionadas com eletrónica, sistemas de visão, metrologia e automação.

A configuração original também incluía o software NI Vision Acquisition e a licença LabVIEW Real-Time Deployment License. Possibilidade de transferência da licença para um novo utilizador.

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Estado técnico e visual conforme as fotos. Números de catálogo detalhados e números de série de cada dispositivo podem ser enviados mediante solicitação.

A venda do sistema completo é preferível. A venda de módulos individuais também é possível, mediante acordo prévio.

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